4D Profilometrie Entdecken Sie die Fülle der Möglichkeiten des DHM®

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Die einzigartigen DHM® Möglichkeiten setzen neue Referenzen

  • Unerreichte Aufnahme Geschwindigkeit
  • Sofortige Auswertung
  • Sub-Nanometer Höhenauflösung bei jeder Vergrösserung

Entdecken Sie unsere Standard Konfigurationen - rufen Sie an für Kundenspezifische!

Zeitaufgelöste Profilometrie

Zeitsequenzen bis zu 100'000 Bilder/sec

  • Statische & dynamische Topographie
  • Zeitaufgelöste Reaktion auf externen Stimulus
  • Messen an Luft, Flüssigkeit, durch Glas, ...

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Holographischer MEMS Analyzer

MEMS Vibration bis zu 25 MHz

  • In- & aus-der-Ebene Bewegung
  • Vollbild Messungen ohne Scannen
  • Schwingungsformen, Elektrische & Frequenz Analyse

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4D Reflektometer

Vermessen transparenter Strukturen

  • Schichtdicke von 10nm bis zu mehreren zehn Mikrometern
  • Bis zu 3 Schichten
  • Messen des Brechungsindex

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Industrielles Interferometer

"Fliegende" Messungen bis 15 cm/s

  • Robust gegen Vibrationen
  • Intrinsische vertikale Kalibration
  • High-throughput Messungen

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